摘要：稀土材料的荧光寿命是研究稀土材料工作中一项非常重要的检测指标，本文在熟悉材料荧光寿命检测方法的基础上，搭建了一套以脉冲激光器和像增强器（ICCD）为时间分辨探测工具的系统荧光寿命检测系统，对系统的组成原理及检测方法进行了详细的论述。整个系统的脉冲激发光源为固体脉冲激光器（Nd：YAG，532nm）和光参量振荡系统（OPO）级联而成，输出980nm红外脉冲光，通过带通滤波，聚焦到样品表面，样品发光通过光纤束导入到光谱仪。光谱仪将荧光光谱展开到ICCD的光敏面上。利用ICCD的高速高精度门控技术，通过多周期脉冲激发和时间延迟门触发技术，将稀土材料的荧光光谱的时间衰减特征数据获取，通过后续的数据处理和曲线绘制，获得不同波长下的寿命曲线。

关键词：荧光寿命；单光子计数；像增强器，稀土材料

目录

摘要

Abstract

第一章  绪 论

1.1荧光寿命的主要内容和目的

1.2荧光寿命测量的意义

1.3测量荧光寿命的影响因素

第二章  荧光寿命测量系统组成

2.1 荧光寿命测量方法

2.1.1脉冲法

2.1.2相移法

2.2 基于纳秒激光器激发的荧光寿命测量系统

2.2.1 OPO脉冲激光器

2.2.2 样品激发装置

2.2.3 基于ICCD探测的瞬态光谱仪

2.2.4 系统结构

第三章 荧光寿命测量及数据处理

3.1 测量参数设置

3.2 数据获取及曲线绘制

结    论

参 考 文 献

致    谢