摘要：交换耦合磁记录介质因其具有高矫顽力，低写入磁场而成为下一代磁记录介质的首选，因此，研究交换耦合磁记录介质材料的矫顽力机制、磁滞回线、以及磁化反转机制等显得尤为重要。本论文中，我们结合微磁学的方法，建立了含有非磁相颗粒边界的交换耦合介质（ECC）模型，研究中间层厚度变化对ECC介质矫顽力和方形度的影响，以及软磁层的各向异性场和饱和磁化强度对薄膜矫顽力和方形度的影响。研究表明当选择合适的软磁层参数（如各向异性场Hks和饱和磁化强度Mss），能有效降低薄膜的矫顽力和回线的方形度，从而实现交换耦合介质的磁化反转。该研究对磁记录介质的研究提供了理论指导（如实验最优化参数，矫顽力机制等），为磁信息存储技术的发展提供了有力帮助。

关键词：磁记录；FePt薄膜；交换耦合；矫顽力

目录

摘要

Abstract

1.绪论-1

1.1磁记录技术发展及应用-1

1.2FePt合金薄膜简介-2

1.3微磁学研究背景-5

1.4本论文的研究内容-5

2.交换耦合磁介质的定量化分析-6

2.1磁畴理论与微磁学-6

2.2ECC介质的微磁学分析-7

2.2.1微磁学微观模型的建立-7

2.2.2Pt层的厚度与磁介质存储特性-9

2.2.3软磁层的本征磁性参数与磁介质存储特性-14

结    论-17

参考文献-18

致    谢-19