摘要：本文通过利用COMSOL软件，建立一维等离子体模型,模拟了低气压氢气介质阻挡放电的整个过程。通过对模型的研究与了解，分析等离子体在放电过程中随时间和空间的变化。完成电压1000V，1500V，2000V；气压0.1atm，0.3atm，0.5atm时,电子密度、电子温度、激发态氢分子密度、氢分子离子密度时空分布的分析。在本次等离子体放电特性模拟中，保持其余参量不变，改变气压和电压，对整个放电过程进行分析，结果表明:随电压和气压的改变，等离子体参量均有所变化。随电压升高, 电子密度、激发态氢分子密度、氢分子离子密度、放电区域内的平均电子温度增大。随气压升高，电子密度、激发态氢分子密度、氢分子离子密度整体升高，放电区域内的平均电子温度降低。

关键词：低气压；介质阻挡放电；等离子体；COMSOL软件

目录

摘要

Abstract

1 绪论-1

1.1 等离子体介绍-1

1.1.1 等离子体-1

1.1.2等离子体的分类-2

1.2 介质阻挡放电介绍-2

1.2.1 介质阻挡放电-2

1.2.2 介质阻挡放电的应用-3

1.2.2 模拟研究方法-3

1.3 毕业设计（论文）研究内容-4

2 低气压氢气介质阻挡放电特性的模拟讨论-5

2.1 理论模型-5

2.1.1模型介绍-5

2.1.2模型计算方法-5

2.2模拟结果与分析-7

2.2.1相同气压不同电压下氢气介质阻挡放电特性-7

2.2.2相同电压不同气压下氢气介质阻挡放电特性-14

结    论-21

参 考 文 献-22

致    谢-23